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產品分類CLASSIFICATION
IC封裝PCT老化試驗箱(詳細介紹:適用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業、制藥線路板,多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產品之密封性能的檢測
芯片高溫高濕高壓試驗箱用于在產品的設計階段,用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環節,適合電子、電器、車輛、金屬、化學、建材、通訊組件、國防工業、航天工業、電子芯片IC、IT等物理性變化
飽和加速壽命老化試驗箱用途:使用于在產品的設計階段,用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環節,適合電子、電器、車輛、金屬、化學、建材、通訊組件、國防工業、航天工業、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。
hast非飽和試驗箱圓型門設計,能夠密封溫度與壓力安全鎖定控制,鎖牢固才能啟動試驗機,箱內壓力超壓時具有自動泄壓或手動泄壓。計時安裝,LED數字型計時器,當鍋內溫度達到后計時器確保試驗*,計時從表格1驅動。
歐可pct高溫加速老化試驗箱可測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。
pct加速試驗試驗箱供電系統: 1、電源:單相380V50Hz3KW 2、試驗用水:純水 3、配有出廠合格證、保修卡、使用說明書各一份。